三溫測試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 三溫測試分類機(jī)
產(chǎn)品型號: 3110-FT
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
適用于終端測試 (Final Test)
可設(shè)定溫度范圍-40℃~125℃
支持的芯片尺寸從3x3mm到45x45mm
具有4個(gè)產(chǎn)品分類料盤
支持遠(yuǎn)程控制操作
具有測試良率控制功能
具有連續(xù)自動(dòng)重測功能
具有實(shí)時(shí)監(jiān)控產(chǎn)品分類功能
整合Chroma混合型冰水機(jī)
支持TSD溫度控制
*佳工程三溫特性測試平臺
UPH*高可達(dá)500pcs
控制下壓觸力在1到10kg (選配)
Socket溫度補(bǔ)償模塊 (選配)
可支授系統(tǒng)層級測試 (SLT) (選配)
三溫測試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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適用于終端測試 (Final Test)
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可設(shè)定溫度范圍-40℃~125℃
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支持的芯片尺寸從3x3mm到45x45mm
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具有4個(gè)產(chǎn)品分類料盤
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支持遠(yuǎn)程控制操作
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具有測試良率控制功能
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具有連續(xù)自動(dòng)重測功能
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具有實(shí)時(shí)監(jiān)控產(chǎn)品分類功能
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整合Chroma混合型冰水機(jī)
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支持TSD溫度控制
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*佳工程三溫特性測試平臺
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UPH*高可達(dá)500pcs
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控制下壓觸力在1到10kg (選配)
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Socket溫度補(bǔ)償模塊 (選配)
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可支授系統(tǒng)層級測試 (SLT) (選配)
Chroma 3110-FT為一臺適用于IC終端測試(Final Test)工程產(chǎn)品特性及測試開發(fā)用途之測試分類設(shè)備。
3110-FT支持多種芯片測試，可支持的芯片尺寸從3x3mm到45x45mm。亦可加選遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，操作者得以在任何地點(diǎn)透過網(wǎng)絡(luò)操作以增加設(shè)備使用率。3110-FT三溫測試分類機(jī)同時(shí)包含預(yù)溫區(qū)，可改善測試時(shí)間及產(chǎn)出；配有2個(gè)自動(dòng)分料盤及2個(gè)手動(dòng)分料盤，在僅1.4m2的空間發(fā)揮*佳的IC分料能力以節(jié)省成本與時(shí)間。
整合Chroma混合型冰水機(jī)與TEC致冷芯片溫度控制器后，3110-FT可于進(jìn)行測試三溫測試時(shí)，同時(shí)控制殼溫及接面溫度。
3110-FT可支持大部分產(chǎn)業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)通信接口以及提供不同種類測試設(shè)備的對接方式?？删珳?zhǔn)控制溫度范圍從-40℃到125℃。具有易于操作的軟件接口以及可快速更換待測產(chǎn)品之設(shè)計(jì)。將可大幅縮短停機(jī)時(shí)間而進(jìn)一步提高使用效率及產(chǎn)能。
