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產(chǎn)品資料

激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)

如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 58620
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片 高精密及高容量載具設(shè)計(jì) 自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)(Auto-alignment) AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間 共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試 高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達(dá)0.01℃ 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter 軟體分析激光特性：Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等


激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)  的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
  • 全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片
  • 高精密及高容量載具設(shè)計(jì)
  • 自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)(Auto-alignment)
  • AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間
  • 共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試
  • 高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達(dá)0.01℃
  • 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
  • 軟體分析激光特性：Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等
激光半導(dǎo)體為高科技產(chǎn)品，價(jià)格不菲，多數(shù)使用于光通訊、醫(yī)療、國(guó)防等領(lǐng)域，并與人類社會(huì)息息相關(guān)。來(lái)進(jìn)行光路調(diào)整(Alignment)測(cè)試與封裝后的檢測(cè)。
致茂58620為一個(gè)全新概念機(jī)種，專門為激光半導(dǎo)體(Laser Diode)所打造的設(shè)計(jì)，搭配自動(dòng)化特性檢測(cè)多合一設(shè)計(jì)概念，并進(jìn)行不同的測(cè)試項(xiàng)目同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；搭配高容量的載具設(shè)計(jì)，可供多顆激光芯片(Chip level)進(jìn)行大量測(cè)試；另外通過(guò)由光學(xué)定位輔助(AOI)，可提升自動(dòng)化檢測(cè)的速度舎可靠測(cè)的速度與可靠性，另選的這的測(cè)的速測(cè)測(cè)試 了解激光半導(dǎo)體特性與溫度的關(guān)系。
致茂58620可降低研發(fā)單位小量試產(chǎn)驗(yàn)證(Laboratory)或生產(chǎn)單位(Production)，可有效提高激光半轉(zhuǎn)化發(fā)單位小量試產(chǎn)驗(yàn)證(Throughput)。
 高精密多層次**設(shè)計(jì)載具
致茂提供高精密載具(Carrier)供不同激光半導(dǎo)體使用，主要應(yīng)用于邊射型Edge-Emission 激光使用(包括CoC、CoS、Laser-bar等)，載具的設(shè)計(jì)為因應(yīng)大量測(cè)試，制作為雙邊對(duì)稱結(jié)構(gòu)，*多可放置80顆待測(cè)物，特殊的多層次載具**設(shè)計(jì)可讓激光半導(dǎo)體不互相干涉并可靠的與探針結(jié)合進(jìn)行測(cè)試。此外，底層金屬結(jié)構(gòu)也特別考慮激光半導(dǎo)體的散熱與均溫性控制，操作人員只要將放滿激光半導(dǎo)體的載具放置在機(jī)臺(tái)的入口處后(Loading/Unloading)，即可One-Press按鈕進(jìn)行完整的自動(dòng)化檢測(cè)。
 共享載具
Chroma 58620藉由多年在半導(dǎo)體IC測(cè)試的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)，發(fā)展共用載具與更換治具等概念并應(yīng)用于激光二極管產(chǎn)業(yè)。傳統(tǒng)在激光二極管前段測(cè)試過(guò)程中，需經(jīng)過(guò)多次的老化測(cè)試(Burn-In)與特性檢測(cè)制程(Characterization)，在更換載具的過(guò)程中常會(huì)損壞待測(cè)物減低良率，共用載具的好處可讓研發(fā)或操作員只需要在**次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測(cè)物之下完成所有必要的檢測(cè)，此設(shè)計(jì)亦可搭配Chroma 58601老化測(cè)試機(jī)。然而，激光二極管的形式(Form Factor)于各家設(shè)計(jì)皆有所不同，而58620 更換治具(Change Kit)的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進(jìn)行修改后即馬上可進(jìn)行量測(cè)，目前可使用的形式為Chip on carrier、Chip on sub-mount、Laser-bar等。
 自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)與光學(xué)輔助定位
激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver)等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測(cè)試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。 Chroma 58620測(cè)試系統(tǒng)中含有自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser進(jìn)行激光光*大功率點(diǎn)耦合并測(cè)試，當(dāng)激光光達(dá)一定程度的耦合效率時(shí)，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA )進(jìn)行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration)以及波長(zhǎng)分析(Peek wavelength)等；此外，利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI)使得Focuser快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region )并進(jìn)行搜尋*大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測(cè)試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測(cè)試人力。

▲自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)與光學(xué)輔助定位

 高精準(zhǔn)度溫控平臺(tái)
激光半導(dǎo)體依據(jù)物理特性會(huì)強(qiáng)烈受到外在溫度影響改變光譜與電性特性，因此在設(shè)計(jì)上加入了溫控平臺(tái)的設(shè)計(jì)并搭配Chroma 54130–300W的高精準(zhǔn)度TEC溫度控制器與51101溫度紀(jì)錄器，確保載具的溫度特性與均溫性。由系統(tǒng)圖示可看到，平臺(tái)溫度上平均分布四組溫度感測(cè)器加上中心點(diǎn)的溫度控制器的回覆點(diǎn)使得溫控平臺(tái)達(dá)到良好均溫性，以及**的穩(wěn)定性。
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