電感測(cè)試包裝機(jī)
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產(chǎn)品名稱(chēng): 電感測(cè)試包裝機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 1870D Series
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試包裝速度
600ppm~1,200ppm (1870D)
80ppm~250ppm (1870D-12)
選配功能：
層間短路測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試
重疊電流測(cè)試
圓振盤(pán)入料設(shè)計(jì)，穩(wěn)定快速供料
導(dǎo)引盤(pán)設(shè)計(jì)，無(wú)掉料疑慮
四線式量測(cè)設(shè)計(jì)的測(cè)試座
入料異常自動(dòng)排料機(jī)構(gòu)
各測(cè)試站皆有獨(dú)立的**品收集盒
另提供測(cè)試不包裝功能，良品只被收集在散裝收集盒內(nèi)
專(zhuān)用數(shù)據(jù)搜集軟件，可實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
預(yù)留噴碼及光學(xué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)位置
切換式中/英/日文操作接口
設(shè)備快速、穩(wěn)定、**
電感測(cè)試包裝機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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測(cè)試包裝速度
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600ppm~1,200ppm (1870D)
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80ppm~250ppm (1870D-12)
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選配功能：
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層間短路測(cè)試
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絕緣電阻測(cè)試
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重疊電流測(cè)試
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圓振盤(pán)入料設(shè)計(jì)，穩(wěn)定快速供料
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導(dǎo)引盤(pán)設(shè)計(jì)，無(wú)掉料疑慮
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四線式量測(cè)設(shè)計(jì)的測(cè)試座
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入料異常自動(dòng)排料機(jī)構(gòu)
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各測(cè)試站皆有獨(dú)立的**品收集盒
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另提供測(cè)試不包裝功能，良品只被收集在散裝收集盒內(nèi)
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專(zhuān)用數(shù)據(jù)搜集軟件，可實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
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預(yù)留噴碼及光學(xué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)位置
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切換式中/英/日文操作接口
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設(shè)備快速、穩(wěn)定、**
Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款為芯片型電感所設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試生產(chǎn)設(shè)備，包含芯片電感所需的各項(xiàng)測(cè)試功能，并具備制程終端的卷帶包裝自動(dòng)化機(jī)械，達(dá)到生產(chǎn)線的制造自動(dòng)化。
Chroma 1870D/1870D-12的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能包含電感值(Ls)/質(zhì)量因素(Q)量測(cè)、繞線電阻(RDC)量測(cè)、極性(Polarity)測(cè)試，并可選配層間短路測(cè)試(IWT)、絕緣電阻(IR)測(cè)試及重疊電流(BIAS Current)測(cè)試，包含芯片電感的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格及質(zhì)量相關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目。
為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，微型電感被大量使用，相對(duì)的電感需大量生產(chǎn)，Chroma 1870D/1870D-12*大生產(chǎn)效率為1,200ppm，可滿足龐大的需求數(shù)量。除測(cè)試外，1870D/1870D-12也具備自動(dòng)包裝機(jī)械，可將產(chǎn)品自動(dòng)封裝于包裝卷帶，以符合SMD生產(chǎn)所需樣式。
Chroma 1870D/1870D-12的供料模塊采用圓盤(pán)振動(dòng)送料，圓盤(pán)振動(dòng)送料可高速運(yùn)送薄型化產(chǎn)品。圓盤(pán)振動(dòng)送料透過(guò)軌道設(shè)計(jì)、光纖偵測(cè)及氣孔吹氣決定入料方向，相較于以往的直線往復(fù)式的機(jī)械送料，較快速也省空間。
傳統(tǒng)往復(fù)式機(jī)械或炮塔式機(jī)械架構(gòu)在測(cè)試移載時(shí)，是以吸嘴設(shè)計(jì)吸附產(chǎn)品進(jìn)行移載，往往在移載時(shí)受移動(dòng)慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落，或因定位不準(zhǔn)確而無(wú)法測(cè)試。Chroma 1870D/1870D-12的測(cè)試區(qū)以導(dǎo)引盤(pán)架構(gòu)設(shè)計(jì)，整體為封閉式的架構(gòu)， 在進(jìn)行高速移載時(shí)不會(huì)有產(chǎn)品遺漏的疑慮，相較于傳統(tǒng)機(jī)械架構(gòu)更快速及穩(wěn)定。
致茂電子專(zhuān)精于電子測(cè)試技術(shù)，對(duì)于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試治具也有專(zhuān)門(mén)的設(shè)計(jì)。Chroma 1870D /1870D-12測(cè)試站所使用的測(cè)試座為四線式量測(cè)設(shè)計(jì)，比一般自動(dòng)測(cè)試設(shè)備更精準(zhǔn)穩(wěn)定。測(cè)試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計(jì)，相較于探針于使用上容易接觸且壽命長(zhǎng)，于量測(cè)上片式設(shè)計(jì)也較探針?lè)€(wěn)定且容易維護(hù)。
Chroma 1870D/1870D-12具備專(zhuān)用軟件，可于生產(chǎn)過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)，將每一個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)搜集儲(chǔ)存。實(shí)時(shí)監(jiān)控功能利于生產(chǎn)單位于生產(chǎn)時(shí)降低生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)，減少不必要生產(chǎn)工時(shí)。數(shù)據(jù)搜集功能有利于研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或 質(zhì)量控管，透過(guò)軟件協(xié)助提升生產(chǎn)質(zhì)量。
產(chǎn)品應(yīng)用
研發(fā)、品保批量驗(yàn)證
研發(fā)及品保單位針對(duì)產(chǎn)品會(huì)進(jìn)行所有特性檢測(cè)，分別為基本電氣特性及質(zhì)量相關(guān)測(cè)試，測(cè)試站別則包含極性測(cè)試、層間短路測(cè)試 (或選擇重疊電流測(cè)試)、繞線電阻測(cè)試及電感/質(zhì)量因素測(cè)試，進(jìn)而搜集與分析測(cè)試數(shù)據(jù)以評(píng)估質(zhì)量，或進(jìn)行產(chǎn)品打樣試產(chǎn)。Chroma 1870D/1870D-12系統(tǒng)提供彈性化選擇，依不同單位或需求選擇搭配測(cè)試站別。
產(chǎn)線全功能電氣特性測(cè)試
比照研發(fā)端，將全部電氣特性測(cè)試納入生產(chǎn)線，包含極性測(cè)試、層間短路測(cè)試(或選擇重疊電流測(cè)試)、繞線電阻測(cè)試及電感/質(zhì)量因素測(cè)試。
產(chǎn)線標(biāo)稱(chēng)值快速測(cè)試
針對(duì)產(chǎn)線僅測(cè)試標(biāo)稱(chēng)值來(lái)達(dá)到快速生產(chǎn)的需求，測(cè)試項(xiàng)目則調(diào)整為繞線電阻測(cè)試及電感/質(zhì)量因素測(cè)試。
系統(tǒng)預(yù)留空間搭配標(biāo)印及標(biāo)印光學(xué)檢查
部分功率電感需在頂部做標(biāo)印，以判別電感極性方向或樣式類(lèi)別。Chroma 1870D/1870D-12可配合將客戶(hù)現(xiàn)有的標(biāo)印系統(tǒng)及光學(xué)檢查系統(tǒng)安裝整合于系統(tǒng)內(nèi)。
