產(chǎn)品搜索
八種判定功能 面積比較 (Area) 面積比較可用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣**或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較，總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減， 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。 面積差比較 (Differential Area) 面積差比較可用來(lái)檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重迭的面積所占的比例，此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異，當(dāng)電容量越大 波形諧振的頻率會(huì)越低，電容量越小波形諧振的頻率越高。 顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter) 顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來(lái)做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量，由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)非常高，導(dǎo)致波形的總量變大，因此可利用此特性來(lái)做接觸檢查的判斷。 二次微分偵測(cè) (Laplacian) 二次微分偵測(cè)可以用來(lái)偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式，找出在脈沖測(cè)試的過(guò)程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電，所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。 **電壓峰值 (V1) 諧振波形中的**個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，會(huì)導(dǎo)致**個(gè)電壓峰值比樣品的**個(gè)電壓峰值低。 第三電壓峰值 (V3) 諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多，也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。 波峰比 (Peak Ratio) 波峰比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例，當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快，導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小，所以絕緣質(zhì)量較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣質(zhì)量的狀態(tài)。 波峰差比 (ΔPeak %) 波峰差比是用來(lái)檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量是否接近樣品的絕緣質(zhì)量。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異，利用比較的方式可以篩出絕緣質(zhì)量接近樣品絕緣質(zhì)量的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量與樣品的絕緣質(zhì)量一樣時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同，所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量低于樣品的絕緣質(zhì)量時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小，所以波峰差比為負(fù)數(shù)，表示待測(cè)物的絕緣質(zhì)量比樣品差。 產(chǎn)品應(yīng)用 接觸檢查 Contact Check 接觸檢查功能利用諧振頻率的差異來(lái)檢測(cè)是否有連接到待測(cè)物。由于當(dāng)沒(méi)有碰觸好或是沒(méi)有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)變高，并可利用此頻率差異做檢測(cè)。使用者可依各自的需求對(duì)接觸檢查的靈敏度做調(diào)整，可將百分比的界線提高來(lái)增加接觸檢查的靈敏度或是將百分比的界線降低來(lái)減少接觸檢查的靈敏度。 崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V) 19311 Series具有崩潰電壓分析功能，可設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓，利用電壓爬升過(guò)程偵測(cè)波形面積比(Area) 、二階微分偵測(cè)(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超過(guò)設(shè)定的限制，測(cè)試電池芯*大可承受的脈沖測(cè)試電壓。研究人員可利用此功能對(duì)鉛酸電池芯進(jìn)行分析與研究，及制定制造生產(chǎn)時(shí)脈沖測(cè)試的檢測(cè)電壓。 10/25 通道掃描測(cè)試 19311-10 單機(jī)有10個(gè)通道可進(jìn)行掃描測(cè)試，*多可以一次連續(xù)測(cè)試9個(gè)電池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以擴(kuò)增通道數(shù)至25個(gè)通道*一次*多可連續(xù)測(cè)試24個(gè)鉛酸電池芯。 Screenshot 畫面擷取功能 操作者可以利用快捷鍵擷取操作當(dāng)下屏幕上所顯示的畫面，顯示畫面的截圖的會(huì)儲(chǔ)存于插置在19311上的USB 隨身硬盤。 Export 數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能 操作者可以利用Export功能將每一次測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果導(dǎo)出并儲(chǔ)存于插置在19311/19311-10上的USB 隨身硬盤(USB flashdrive)。操作者亦可針對(duì)每一次的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。儲(chǔ)存文件格式為CSV（Comma Separated Values）。
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