電容測試儀
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產(chǎn)品名稱: 電容測試儀
產(chǎn)品型號: 3506
產(chǎn)品展商: 日本日置
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
電容測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類BIN功能，是可對低容量電容器實現(xiàn)穩(wěn)定測量精度并符合市場要求的產(chǎn)品。
電容測試儀
的詳細介紹
HIOKI(日置電機株式會社：日本國長野縣上田市；社長:吉池達悅)開發(fā)出*適合于測量頻率為1kHz、100kHz、1MHz測量所要求的低容量電容器測量的“C 測試儀 3506與C 測試儀 3505”。
- 低容量C測量儀器
C 測試儀 3506與3505是用于測量電解電容器以外的電容器的C（靜電容量）測量儀器，可測量頻率為1kHz、100kHz（**于3505）、1MHz的C（靜電容量）與D（損耗系數(shù)）。C 測試儀 3506與3505的測量范圍：C為0.000 pF～15.0000μF，D為0.00001～1.9900。*低量程為220 pF（1MHz時），與以往的產(chǎn)品相比，大幅度改進了微小容量測量的重復精度。提高了測量期間檢測接觸出錯的能力，適合于裝入自動檢查設備。
- 充實了從低容量到高容量的C儀表系列產(chǎn)品
在已經(jīng)發(fā)售的C 測試儀 3504的基礎上新增本次發(fā)售的C 測試儀 3506與3505，可進行低容量到高容量的電容器C測量。各機型均可進行*快2ms的高速測量，除了可應對taping machine 之外，還可以通過可將C測量值劃分為*多13或14＊1類別的BIN功能應用于分選機。 另外，可保存*多99或70＊2組的測量條件，除了可通過外部控制選擇測量條件之外，還可以向外部輸出比較器結(jié)果與BIN分選測量結(jié)果等，完善了便于構(gòu)建與自動設備之間連接的接口。在構(gòu)建高速自動化生產(chǎn)線上發(fā)揮出強大的威力。
*13506與3505為13類，3504為14類
*23506與3505為70組，3504為99組
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| 電容測試儀產(chǎn)品概要 |
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| HIOKI已銷售了C 測試儀3504，電容器廠家與自動設備廠家還要求提供可測量低容量電容器的C測量儀器。C 測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類BIN功能，是可對低容量電容器實現(xiàn)穩(wěn)定測量精度并符合市場要求的產(chǎn)品。與3504一樣，C 測試儀 3506與3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB為標準配備，因此充實了簡易構(gòu)建自動化生產(chǎn)線的功能。 |
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| 電容測試儀便利性(C 測試儀 3506與3505的功能) |
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- *快2ms（模擬測量1ms）的高速測量 - 具有*快２ms（FAST時）的高速測量，可應對taping machine等的高速檢查。測量速度可進行FAST/NORMAL/SLOW三檔選擇。
- 提高了重復測量精度 - *低C量程為220 pF（1MHz時），與以往產(chǎn)品相比，微小容量測量的重復精度得到了提高。
- 充實了接觸檢測功能 - 利用振動檢測功能等，可檢測測量期間的接觸出錯。出現(xiàn)接觸出錯的測量對象并非**，通過ERR(出錯)判定，有助于提高成品率。
- 比較器功能 - 可分別設定第1參數(shù)（C）與第2參數(shù)（D）的上、下限值。判定結(jié)果可利用蜂鳴器鳴響與LED顯示進行通告，也可以進行外部輸出，設定值可一直顯示。
- 只需要選擇的簡單操作與LED顯示 - 是指從面板顯示所標記的項目中只需要進行選擇的簡易操作。設定的測量條件通過點亮LED進行顯示，一目了然，便于把握設定條件。
- BIN分選功能 - C測量可根據(jù)測量值劃分為*多13類，因此易于進行分選。
- 觸發(fā)器同步輸出功能 - 施加觸發(fā)后，輸出測量信號，僅在測量時向被測元件施加信號。由于接觸被測元件時沒有大電流，因此減輕了接點的磨損。
- 可保存70組測量條件 -可保存*多70組測量條件，可迅速應對重復測量較多的生產(chǎn)線的被測元件切換?？衫肊XT I/O讀取任意測量條件。
- 打印機輸出 - 通過RS-232C接口，可從選購件—9442打印機打印出測量值、比較器結(jié)果及BIN分選測量結(jié)果。這便于檢查結(jié)果的數(shù)據(jù)附加。
- EXT I/O?RS-232C,GP-IB標準配備 - 觸發(fā)、測量條件的負載可從外部進行控制。另外，可進行比較器結(jié)果、BIN分選測量結(jié)果以及測量結(jié)束等的外部輸出，完善了與自動設備之間的接口。
- 符合JIS標準 - 針對電解電容器以外的電容器，以較低的價格實現(xiàn)了基于JIS C 5101-1的，頻率為1kHz、1MHz的C-D(tanδ)測量。
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| 電容測試儀主要用途 |
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