終端測試分類機
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產(chǎn)品名稱: 終端測試分類機
產(chǎn)品型號: Model 3160
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
3160/3160-A有著高可靠性的處理機制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片， 且能與通用生產(chǎn)治具相容，順暢的自動化技術滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此 外，可調式的壓測力和位置校正以及各種感應裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞， 和幫助延長socket的使用期，同時保持或提升產(chǎn)能的良率。
終端測試分類機
的詳細介紹
主要特色：
- 9Kpcs 產(chǎn)能
- 可設定的待測物間距
- 可側邊安裝tester
- 壓閥式受測物防護機
- 智慧型IC殘留檢測
- 測試良率控制
- 通用治具
- 工程級機臺自動校正功能
- 進階版ESD標準
- 1*4 DUT架構 (Model 3160)
- 1*4或2*2 DUT架構 (Model 3160-A)
- 空載盤自動堆迭 (選購) (Model 3160-A)
- 主動式熱控模組 (選購) (Model 3160-A)
- 馬達 Arm Z (Model 3160-A)
- 氣缸式側推功能 (Model 3160-A)3160/3160-A是一款適合量產(chǎn)，高產(chǎn)出且多平行測試站點的高速IC測試分類機。此分類機 運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤 中。 其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重 覆性，并有助于增加機臺使用之穩(wěn)定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可 節(jié)省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產(chǎn)成本。進階款3160-A更可按照客 戶測試條件需求搭配Chroma*新研發(fā)的主動式熱控模組（ATC）達到精準的常、高溫測 試溫度要求。
