SoC 測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: SoC 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: Model 3650
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
平行測試功能
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供*多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， *高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數(shù) 位通道的時序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。
SoC 測試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 50/100MHz測試工作頻率
- 512個 I/O 通道(I/O Channel)
- 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
- Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
- 32 DUTS 平行測試功能
- ADC/DAC 測試功能
- 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
- BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
- 好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
- 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
- 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
- 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
- 即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
- 測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
- 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
- *經(jīng)濟(jì)實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案
彈性化架構(gòu)
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時間需求的設(shè)備之 上。Chroma3650在設(shè)計其架構(gòu)時，應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。
CRISP (軟體測試環(huán)境)
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機(jī) 臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。
在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇 程式設(shè)計者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時 間。
*低價位的測試解決方案
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和 整體成本來達(dá)成，而非只是簡單地減少測試系統(tǒng) 的價格而已。Chroma 3650的設(shè)計即是可適用于 所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。
應(yīng)用支援
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計皆能精準(zhǔn)地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機(jī)會、提高生產(chǎn)力、以** 策略降低測試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。
